3.13.3 время сканирования TS (scanning time): Время, необходимое для однократного сканирования одного элемента поверхности вдоль заданной на нем траектории сканирования.
Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации. academic.ru. 2015.
Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope) сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес … Википедия
Видеокарта — семейства GeForce 4, с радиатором и вентилятором Видеокарта (также видеоадаптер, графический адаптер, графическая плата, графическая карта, графический ускоритель) … Википедия
Бененсон, Залман Михайлович — В Википедии есть статьи о других людях с такой фамилией, см. Бененсон. Залман Михайлович Бененсон Дата рождения … Википедия
Принстонский университет — По английски Princeton University … Википедия
Суффиксное дерево — Суффиксное дерево бор, содержащий все суффиксы некоторой строки (и только их). Позволяет выяснять, входит ли строка w в исходную строку t, за время O(|w|), где |w| длина строки w. Содержание 1 Основные определения и описание структуры … Википедия
Дерево суффиксов — Суффиксное дерево способ организации данных (строк), позволяющий выяснять, входит ли строка w в строку t, за время O(|w|), где |w| длина строки w. Содержание 1 Основные определения и описание структуры 2 Свойства суффиксных д … Википедия
S-Video — В этой статье не хватает ссылок на источники информации. Информация должна быть проверяема, иначе она может быть поставлена под сомнение и удалена. Вы можете о … Википедия
